{"product_id":"parameterextraktion-bei-halbleiterbauelementen-book-peter-baumann-9783658438203","title":"Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen","description":"\u003cp\u003eErgänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen. \u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"WoB","offers":[{"title":"GB \/ NEW \/ INGRAM","offer_id":52618340204817,"sku":"NLS9783658438203","price":46.09,"currency_code":"USD","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0784\/4072\/6801\/files\/9783658438203.jpg?v=1791982105","url":"https:\/\/www.worldofbooks.com\/products\/parameterextraktion-bei-halbleiterbauelementen-book-peter-baumann-9783658438203","provider":"World of Books ","version":"1.0","type":"link"}