Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen by Peter Baumann

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen by Peter Baumann

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen. 

Peter Baumann is a Professor of Philosophy at Swarthmore College. He went to University in Gottingen (Germany) and Paris (Sorbonne; IEP). He received all of his degrees at the University of Gottingen. He has taught at the University of Gottingen, Hamburg University (Germany), Swarthmore College
(USA), the University of Aberdeen (UK), and Wooster College (USA). From 1993-1995, he was a visiting fellow at the Philosophy Department at Stanford University.